生产厂家:日本日本电子株式会社 型号：JEM-F200

主要性能指标：加速电压：20 KV-200 KV

TEM放大倍率：20-2.0 M

STEM放大倍率：200-150 M

背散射电子分辨率：≤1.0 nm@200KV

STEM BF/DF分辨率：≤0.16 nm@200KV

能量分辨率： 优于130 eV 元素分析范围：4B至92U

服务领域：对材料的微观结构、元素成分、化学价态进行观测表征和定量分析

样品要求：

样品不含磁性，一般应为厚度小于100nm的固体；样品在电镜电磁场作用下不会被吸出，附于极靴上；样品在高真空中能保持稳定；不含有水分或其它易挥发物，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干

设备管理员：黄艳萍 联系电话：028-85850992，15756250828